Beschreibung
Der Einsatz von Rasterelektronenmikroskopen (REM) erweitert den Erkenntnisbereich für die Schadensforschung ganz wesentlich. Die hohen, mit REM erzielbaren Auflösungen in Brüchen und Oberflächenstrukturen lassen die Mechanik der Schädigungsvorgänge deutlicher erkennen. In Verbindung mit den Untersuchungsergebnissen über die chemische Zusammensatzung von Werkstoffen und Belägen können weitere Aufschlüsse über Schädigungsmechanismen gewonnen werden. Diese umfangreiche Sammlung von REM Aufnahmen und ihren Beschreibungen ist ein wertvolles Hilfsmittel für den Ingenieur im Betrieb, der Ursachen von Schäden auffinden und sein spezielles REM Schadensbild einordnen will. Die Erscheinungsformen der Schädigungen sind ausführlich dargestellt und werden sachgerecht beschrieben und interpretiert.
Autorenportrait
Prof. em. Dr.-Ing. habil Dr. h.c. Gottfried Wilhelm Ehrenstein hat nach einem humanistischen Abitur an der Technischen Hochschule Hannover Allgemeinen Maschinenbau studiert. Nach der Promotion arbeitete er 10 Jahre in der Anwendungstechnischen Abteilung Kunststoffe der BASF AG und war gleichzeitig Lehrbeauftragter und nach der Habilitation 1976 Privatdozent der Fakultät für Maschinenbau der Universität Karlsruhe (TH, Prof. Macherauch). Von 1977 bis 1989 war er Inhaber des Lehrstuhls für Werkstoffkunde/Kunststoffe der Universität-Gesamthochschule Kassel, ab 1989 Professor für Kunststofftechnik des neu eingerichteten Lehrstuhls der Universität Erlangen-Nürnberg.
Sonstiges
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