Nah-Infrarot Kamera auf Basis von Germanium Photodetektoren in CMOS-Technologie
Köllner, Ann-Christin
Lieferbar in ca. 10-14 Arbeitstagen
Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy Investigation of Three-dimensional GaN Structures
Ali Deeb, Manal
Untersuchung der Wachstumskinetik von SiC mithilfe der in-situ Computertomographie des Gasphasenkristallisationsprozesses und der Modellierung der Wachstumsbedingungen
Arzig, Matthias
Study of Gallium Nitride High Electron Mobility Transistors towards Highly Efficient and Reliable Power Switchin
Heuken, Lars
Impact of Silicon Carbide based Power Modules on Mission Profile Efficiency of Automotive Traction Inverters
Pai, Ajay Poonjal
