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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design

A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach

Erschienen am 01.03.2024, Auflage: 1. Auflage
CHF 257,00
(inkl. MwSt.)
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Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9789811985539
Sprache: Englisch

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